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BX-H205便攜式數(shù)顯自動輻照計(jì)是一款便攜式自動量程的測試儀器。它采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)，可以用來測量可見光輻照度，廣泛應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、建筑、環(huán)境、衛(wèi)生、科研等各個(gè)領(lǐng)域。

BX-H447A單通道紫外線檢測儀采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

BX-H447雙通道紫外線檢測儀采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

BX-H446雙通道紫外線檢測儀采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

BX-H444紫外輻照計(jì)用于測量從280至400納米（UVAB）范圍內(nèi)紫外線。每一種良好的儀表照明范圍允許用戶進(jìn)行的紫外線輻射的定量測量。